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"주제어 : 반도체 " 에 해당되는 자료의 검색결과는 9,538 건 입니다.검색 히스토리

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도서 (1,394)건

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번호 유형 책제목 저자 발행처 발행연도 청구기호 자료이용장소 원문이용방법 온라인보기
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번호 : 1 유형 : 도서 책제목 : 발전로 열.수력 안전해석 코드개발. 제3차년도 년차보고서
과학기술처 [편]. 과학기술처 1990 비치일 : 00010101 청구기호 : GP569.43-과796ㅂ-3
자료이용장소 : 디지털도서관 디지털자료실
원문이용방법 : [국립중앙도서관]-무료
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번호 : 2 유형 : 도서 책제목 : (演習問題)物理電子工學
電子學敎材硏究會 編 東亞學習社 1980 비치일 : 00010101 청구기호 : 8506-137
자료이용장소 : 4층 도서자료실(서고자료대출반납)
원문이용방법 : [관외이용]-무료
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번호 : 3 유형 : 도서 책제목 : 원자력발전소 개량형 계측제어계통의 신뢰도 평가. 제1차년도 년차보고서
과학기술처 [편]. 과학기술처 1990 비치일 : 00010101 청구기호 : GP569.43-과796ㅇ-1
자료이용장소 : 3층 연속간행물실(서고자료대출반납)
원문이용방법 : [관외이용]-무료

학위논문 (7,606)건

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번호 유형 책제목 저자 발행처 발행연도 청구기호 학위 자료이용장소 원문이용방법 온라인보기
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번호 : 1 유형 : 학위논문 책제목 : MIS Schottky diode의 電氣的特性에 關한 硏究
張宜久 中央大學校 1982 비치일 : 00010101 청구기호 : DP851-514 DP851-514
자료이용장소 : 디지털도서관 디지털자료실
원문이용방법 : [국립중앙도서관,협약도서관]-인쇄 시 과금
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번호 : 2 유형 : 학위논문 책제목 : 와전류 탐침을 이용한 LCD용 비접촉식 면적저항 측정기의 구현
姜信赫 中央大學校 1999 비치일 : 00010101 청구기호 : DM569.4-강789ㅇ DM569.4-강789ㅇ
자료이용장소 : 보존용자료
원문이용방법 : [관외이용]-무료
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번호 : 3 유형 : 학위논문 책제목 : 인버티드 스태거형 TFT 문턱전압의 온도변화 특성
金相律 朝鮮大學校 1999 비치일 : 00010101 청구기호 : DM569.43-김538ㅇ DM569.43-김538ㅇ
자료이용장소 : 4층 도서자료실(서고자료대출반납)
원문이용방법 : [관외이용]-무료

잡지/학술지 (17)건

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번호 유형 책제목 저자 발행처 발행연도 청구기호 자료이용장소 원문이용방법 온라인보기
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번호 : 1 유형 : 잡지/학술지 책제목 : 한국반도체학술대회
한국물리학회 : 한국재료학회 대한전기학회 대한전자공학회 반도체설계교육센터 1994- 비치일 : 청구기호 : 569.405-한495ㅎ
자료이용장소 : 3층 연속간행물실(서고자료대출반납)
원문이용방법 : [관외이용]-무료
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번호 : 2 유형 : 잡지/학술지 책제목 : Directory
한국반도체산업협회 [200-]- 비치일 : 청구기호 : 569.405-한499
자료이용장소 : 3층 연속간행물실(서고자료대출반납)
원문이용방법 : [관외이용]-무료
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번호 : 3 유형 : 잡지/학술지 책제목 : The ASEan
ASE Korea,Inc. 1999- 비치일 : 청구기호 : 569.405-에184
자료이용장소 : 3층 연속간행물실(서고자료대출반납)
원문이용방법 : [관외이용]-무료

기사 (186)건

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번호 유형 책제목 수록잡지명 저자 발행처 발행연도 청구기호 자료이용장소 원문이용방법 온라인보기
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번호 : 1 유형 : 기사 책제목 : (The) Pulsed Id-Vg methodology and Its Application to the Electron Trapping Characterization of High-κ gate Dielectrics
수록잡지명 :  21 p. Young, Chadwin D. Dawei Heh Rino Choi Lee, Byounghun Gennadi Bersuker 대한전자공학회 201006 비치일 : 20120313 청구기호 :
원문이용방법 : [국립중앙도서관,협약공공도서관,정기이용증소지자]-무료
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번호 : 2 유형 : 기사 책제목 : Comparative Study on the Structural Dependence of Logic Gate Delays in Double-Gate and Triple-Gate FinFETs
수록잡지명 :  9 p. Kim, Kwanyoung Jang, Jaeman Yun, Daeyoun Kim, Dongmyong Kim, Daehwan 대한전자공학회 201006 비치일 : 20120313 청구기호 :
원문이용방법 : [국립중앙도서관,협약공공도서관,정기이용증소지자]-무료
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번호 : 3 유형 : 기사 책제목 : Effect of Counter-doping Thickness on Double-gate MOSFET Characteristics
수록잡지명 :  4 p. George James T Saji Joseph Vincent Mathew 대한전자공학회 201006 비치일 : 20120313 청구기호 :
원문이용방법 : [국립중앙도서관,협약공공도서관,정기이용증소지자]-무료
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멀티미디어 (18)건

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번호 유형 책제목 저자 발행처 발행연도 청구기호 자료이용장소 원문이용방법 온라인보기
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번호 : 1 유형 : 영상자료 책제목 : (IDEC 공개강좌)CMOS IC 설계 기초
반도체설계교육센터 [제작] 반도체설계교육센터 1998 비치일 : 11111111 청구기호 : VT569.4-1-1
자료이용장소 : 디지털도서관 미디어자료이용석
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번호 : 2 유형 : 영상자료 책제목 : 저전압/저전력 VLSI 설계. 1-2
반도체설계교육센터 [제작] 반도체설계교육센터 1996 비치일 : 11111111 청구기호 : VT569.4-5-1-2
자료이용장소 : 디지털도서관 미디어자료이용석
원문이용방법 : [관외이용]-무료
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번호 : 3 유형 : 영상자료 책제목 : (IDEC 공개강좌)VHDL 이론과 실습
반도체설계교육센터 [제작] 반도체설계교육센터 1998 비치일 : 11111111 청구기호 : VT569.4-3-1
자료이용장소 : 디지털도서관 미디어자료이용석
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웹사이트 수집 (313)건

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번호 유형 책제목 저자 발행처 발행연도 청구기호 자료이용장소 원문이용방법 온라인보기
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번호 : 1 유형 : 웹사이트 수집 책제목 : 반도체공정진단 기술연구회
반도체공정진단 기술연구회 반도체공정진단 기술연구회 2007 비치일 : 20131014 청구기호 :
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번호 : 2 유형 : 웹사이트 수집 책제목 : Semiconductor system lab
Semiconductor system lab Semiconductor system lab 2012 비치일 : 20131014 청구기호 :
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번호 : 3 유형 : 웹사이트 수집 책제목 : (서강대학교) Optoelectronics & Semiconductors LAB
Optoelectronics and Semiconductors Laboratory Optoelectronics and Semiconductors Laboratory 2006 비치일 : 20131014 청구기호 :
자료이용장소 : 디지털도서관 디지털자료실
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기타 (4)건

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번호 유형 책제목 저자 발행처 발행연도 청구기호 문서군명 시리즈명 자료이용장소 원문이용방법 온라인보기
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번호 : 1 유형 : 기타 책제목 : 한국반도체테스트학회
한국반도체테스트학회 한국반도체테스트학회 2000 비치일 : 20111030 청구기호 :
자료이용장소 : 디지털도서관 디지털자료실
원문이용방법 : [국립중앙도서관]-무료
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번호 : 2 유형 : 기타 책제목 : 한국반도체학술대회
한국반도체학술대회 한국반도체학술대회 2011 비치일 : 20111121 청구기호 :
자료이용장소 : 디지털도서관 디지털자료실
원문이용방법 : [국립중앙도서관]-무료
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번호 : 3 유형 : 기타 책제목 : 제13회 국제반도체대전
국제반도체대전 국제반도체대전 비치일 : 20111129 청구기호 :
자료이용장소 : 디지털도서관 디지털자료실
원문이용방법 : [국립중앙도서관]-무료
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