00939nam a2200241 c 4500001001300000005001500013008004100028041001300069049003200082052001600114056001400130082001600144245013600160260003600296300003100332502008300363504002800446650004600474650004600520650005300566700005300619900002500672KDM20076176020200828081833071026s2007    ulka       AX 000   kor  0 akorbeng0 lEM4047678lEM4047679c2fDP01a566.21b7-5  a566.21240 a621.39222100a효율적인 SOC 테스트를 위한 테스트 설계 기술=xDesign-for-testability techniques for efficient SOC test/d이현빈  a서울:b한양대학교,c2007  avi, 79장:b삽화;c26 cm1 a학위논문(박사) --b한양대학교 대학원,c컴퓨터공학과,d2007  a참고문헌: 장 71-76 8a시스템 분석[--分析]0KSH1998034826 8a시스템 설계[--設計]0KSH1998038312 8a시스템 온 칩[system-on-chip]0KSH20050030611 a이현빈,g李賢彬,d1974-0KAC2013072814aut10aYi, Hyunbean,d1974-