01136nam a2200217 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052003200093245025500125300002400380545005700404545005400461653013200515700001900647700004800666773016600714900001800880900002000898KSI00092477920141014103200141013s2013    gnk           000   kor    a0110010 akorbeng01a567.01305b한547ㅅc14(4)00a부분 해밍 거리의 순차적 분석을 통한 이진 특징 기술자의 고속 정합에 관한 연구 =x(A) study on fast matching of binary feature descriptors through sequential analysis of partial hamming distances /d박한훈,e문광석  ap. 217-221 ;c30 cm  a박한훈, 부경대학교 전자공학과 조교수  a문광석, 부경대학교 전자공학과 교수  aBinary feature descriptoraPartial hamming distanceaFast feature matchingaSpeed-oriented binary feature descriptor generation1 a박한훈4aut1 a문광석,g文光碩,d1955-0KAC2012094980 t信號處理·시스템學會 論文誌.d한국신호처리·시스템학회.g14권 4호(2013년 10월), p. 217-221q14:4<217w(011001)KSE200002708,x1229-948010aPark, Hanhoon10aMoon, Kwangseok