00875nam a2200205 c 4500001001300000005001500013007000300028008004100031040001100072052002900083245010600112300002200218545005000240545005400290545007500344700005300419700003600472700003600508773012500544KSI00085349420110721103338ta110428s2007 ulk 000 kor  a01100101a576.05b한568ㅅc10(5)00a전자빔 미세 분석법 =xElectron probe microanalysis: EPMA /d배승묵,e서원선,e황진하 ap. 86-92 ;c30 cm a배승묵, 홍익대학교 신소재공학과 a서원선, 요업기술원 신뢰성 분석센터 a황진하, 홍익대학교 신소재공학과bjhwang@wow.hongik.ac.kr1 a배승묵,g裵承默,d1979-0KAC2020598124aut1 a서원선,d1958-0KAC2017446161 a황진하,d1966-0KAC2018301320 t세라미스트.d한국세라믹학회.g10권 5호(2007년 10월), p. 86-92q10:5<86w(011001)KSE199801461,x1226-976X