01748nam a2200349 c 4500001001300000005001500013007000300028008004100031040001100072041001300083052002700096245032500123300002200448545010000470545007300570545007300643545007300716545007300789653014700862700005301009700001401062700001401076700001401090700003601104773014501140856002101285900001801306900001801324900001801342900001801360900002001378KSI00082733120100805122934ta100707s2006    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a558.05b한642c34(11)00a금속-산화막 반도체 전계효과 트랜지스터의 우주방사선에 의한 총이온화선량 시험을 위한 테스트 베드 =xTest-bed of total ionizing dose(TID) test by cosmic rays for metal oxide semiconductor field effect transistor(MOSFET) /d신구환,e유광선,e정성인,e강경인,e김형명  ap. 84-91 ;c26 cm  a신구환, 정회원, 한국과학기술원 인공위성연구센터bghshin@satrec.kaist.ac.kr  a유광선, 정회원, 한국과학기술원 인공위성연구센터  a정성인, 정회원, 한국과학기술원 인공위성연구센터  a강경인, 정회원, 한국과학기술원 인공위성연구센터  a김형명, 정회원, 한국과학기술원 인공위성연구센터  a금속-산화막 반도체 전계효과 트랜지스터a총이온화선량a양성자 조사aMOSFETaTotal ionizing doseaProton irradiation1 a신구환,g申球煥,d1966-0KAC2017021604aut1 a유광선1 a정성인1 a강경인1 a김형명,d1952-0KAC2017082440 t韓國航空宇宙學會誌.d韓國航空宇宙學會.g제34권 11호(2006년 11월), p. 84-91q34:11<84w(011001)KSE199509707,x1225-134840u76339926aKd00010aShin, Goohwan10aRyu, Kwangsun10aChung, Sungin10aKang, Kyungin10aKim, Hyungmyung