01158nam a2200241 c 4500001001300000005001500013007000300028008004100031040001100072041001300083052002800096245017600124300002600300545009200326545009100418653015400509700001900663700004800682773013300730856002100863900001700884900001500901KSI00080634720100614195546ta100506s2008    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a560.5b대483ㄱc57(9)00a웨이브릿 기법을 이용한 리커시브 실시간 고장점 표정 시스템 연구 =xRecursive real time fault locator with wavelet method /d李聖雨,e河福男  ap. 1522-1530 ;c30 cm  a이성우, 정회원, 한전 전력연구원 책임연구원, 공박bswlee@kepri.re.kr  a하복남, 정회원, 한전 전력연구원 수석연구원, 공박bbnha@kepri.re.kr  aWavelet methodaSingle ended methodaDouble ended methodaTransient stateaRecloseraFault impedancea웨이브릿 기법a실시간 고장점 표정1 a이성우4aut1 a하복남,g河福男,d1958-0KAC2017026440 t전기학회논문지.d대한전기학회.g57卷 9號(2008년 9월), p. 1522-1530q57:9<1522w(011001)KSE199508722,x1975-835940u76615156aKd00010aLee, Sungwoo10aHa, Boknam