01638nam a2200337 c 4500001001300000005001500013007000300028008004100031040001100072041001300083052003500096245023000131300002200361545007200383545005200455545007200507545007900579545008100658653013700739700005300876700001400929700004800943700001100991700004801002773016701050900001601217900001901233900001701252900001301269900001801282KSI00073000820081209134921ta081129s2003    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a569.9305b제567ㅈc9(1)-9(6)00a유전 알고리즘을 이용한 전기 임피던스 단층촬영법의 영상복원 =xImage reconstruction using genetic algorithm in electrical impedance tomography /d김호찬,e문동춘,e김민찬,e김신,e이윤준  ap. 50-56 ;c30 cm  a김호찬, 제주대학교 전기전자공학부bhckim@cheju.ac.kr  a문동춘, (주)뉴아크bsp2422hw@nuark.ac.kr  a김민찬, 제주대학교 청정화학공학과bmckim@cheju.ac.kr  a김신, 제주대학교 기계에너지생산공학부bsinkim@cheju.ac.kr  a이윤준, 제주대학교 기계에너지생산공학부bleeyj@cheju.ac.kr  aElectrical impedance tomographyaGenetic algorithmaInverse problemaFinite element methoda유전 알고리즘a전기 임피던스1 a김호찬,g金豪贊,d1964-0KAC2015119244aut1 a문동춘1 a김민찬,g金珉澯,d1965-0KAC2017541511 a김신1 a이윤준,g李潤俊,d1949-0KAC2018356260 t제어·자동화·시스템공학 논문지.d제어·자동화·시스템공학회.g9권 1호(2003년 1월), p. 50-56q9:1<50w(011001)KSE199900457,x1225-984510aKim, Hochan10aMoon, Dongchun10aKim, Minchan10aKim, Sin10aLee, Yoonjoon