01234nam a2200265 c 4500001001300000005001500013007000300028008004100031040001100072041001300083052003000096245015900126300002400285545008000309545008000389545008000469653014700549700004100696700001400737700001400751773014800765900001900913900001800932900001800950KSI00070978220081013162154ta080830s1997    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a569.205b한597ㅈc10(1)00a비파괴검사를 위한 PZT-5A 탐촉자에 관한 연구 =x(A)study on PZT-5A probe for nondestructive inspection /d황현석,e이종덕,e송준태  ap. 119-125 ;c26 cm  a황현석, 성균관대학교 공대 전기, 전자 및 컴퓨터 공학부  a이종덕, 성균관대학교 공대 전기, 전자 및 컴퓨터 공학부  a송준태, 성균관대학교 공대 전기, 전자 및 컴퓨터 공학부  a비파괴검사a압전변환기a탐촉자a정합층a후면층aNDTaPiezoelectric transduceraProbeaPZT-5AaMatching layeraBacking layer1 a황현석,d1970-0KAC2016344484aut1 a이종덕1 a송준태0 t電氣電子材料學會誌.d韓國電氣電子材料學會.g10권 2호(1997년 2월), p. 119-125q10:2<119w(011001)KSE199508720,x1225-668410aHwang, Hyunsuk10aLee, Jongdeok10aSong, Joontae