01482nam a2200289 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052003000093245025000123300002100373545006900394545004700463545005300510545005900563653020300622700005300825700004800878700004800926700001400974773013600988900001701124900001801141900001801159900001501177KSI00064911220071004134300070831s2005    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a555.05b한613ㅈc22(11)00a레이저 반사광 분석을 토한 미세 표면 프로파일 추정 알고리즘의 개발=xDevelopment of microscopic surface profile estimation algorithm through reflected laser beam analysis/d서영호,e안중환,e김화영,e김선호  ap. 64-71;c26 cm  a서영호, 부산대원 지능기계공학과bessay76@hitel.net  a안중환, 부산대학교 기계공학부  a김화영, 부산대학교 기계기술연구소  a김선호, 동의대학교 메카트로닉스공학과  aReflected laser beamaMicroscopic surfaceaRoughness profileaIn-process measurementaOptical probea레이저 반사빔a미세 표면a조도 프로파일a인프로세스 계측a광학 프로브1 a서영호,g徐榮晧,d1966-0KAC2018L85004aut1 a안중환,g安重桓,d1954-0KAC2016232711 a김화영,g金華榮,d1964-0KAC2018062061 a김선호0 t한국정밀공학회지.d한국정밀공학회.g22권 11호(2005년 11월), p. 64-71q22:11<64w(011001)KSE199508376,x1255-907110aSeo, Youngho10aAhn, Junghwan10aKim, Hwayoung10aKim, Sunho