00944nam a2200169 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069052002900080245012500109300002000234545008600254653023300340700005300573773013100626900001700757KSI00064692620071004134246070822s2005    ulk           000   kor    a01100101a555.05b한613ㅈc22(3)00a원추형 빔 마이크로 단층촬영기술 및 그 응용=xCone-beam microtomography and its application/d김호경  ap. 7-14;c26 cm  a김호경, 부산대학교 기계공학부 지능기계공학과bhokyung@pnu.edu  a엣스선a마이크로 단층촬영기술a방사선 검출기a평판형 검출기a방사선 영상a비파괴검사aX-rayaMicrotomographyaRadiation detectoraFlat-panel detectoraRadiation imagingaNon-destructive testing1 a김호경,g金胡庚,d1972-0KAC2018256204aut0 t한국정밀공학회지.d한국정밀공학회.g22권 3호(2005년 3월), p. 7-14q22:3<7w(011001)KSE199508376,x1255-907110aKim, Hokyung