01160nam a2200217 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052002900093245019600122300002300318545006600341545005000407653021900457700005300676700004800729773013600777900001500913900001400928KSI00064658320071004134115070822s2001    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a555.05b한613ㅈc18(1)00a변형 모드를 이용한 모니터용 회로 기판의 파손 저감 설계에 관한 연구=xFailure-proof design of the PCB of a monitor using deformed mode shape/d박상후,e이부윤  ap. 111-116;c26 cm  a박상후, LG 생산기술원 디자인엔지니어링 센터  a이부윤, 계명대학교 자동차공학부  a회로기판a내충격 시험a응력확대계수a변형 모드a파괴인성치a유한요소법aPCBaPrinted circuit boardaFragility testaStress intensity factoraDeformed mode shapeaFracture toughnessaFEM1 a박상후,g朴相厚,d1969-0KAC2013173724aut1 a이부윤,g李富潤,d1957-0KAC2017028210 t한국정밀공학회지.d한국정밀공학회.g18卷 1號(2001년 1월), p. 111-116q18:1<111w(011001)KSE199508376,x1225-907110aPark, S.H.10aLee, B.Y.