01223nam a2200241 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069052003000080245014000110300002100250545008700271545006300358545006300421653019300484700005300677700001400730700004800744773013600792900001700928900001700945900001900962KSI00064346820071004134110070816s2000    ulk           000   kor    a01100101a555.05b한613ㅈc17(10)00a쾌속 제품 개발을 위한 측정 시스템=xMeasurement systems for rapid product development/d이관행,e손석배,e박현풍  ap. 26-40;c26 cm  a이관행, 광주과학기술원 기전공학과 부교수blee@kyebek.kjist.ac.kr  a손석배, 광주과학기술원 기전공학과 대학원  a박현풍, 광주과학기술원 기전공학과 대학원  a쾌속제품개발a전산역설계a컴퓨터 원용 검사a통합측정 시스템aRapid product developmentaReverse engineeringaComputer aided inspectionaIntegrated measuring system1 a이관행,g李管行,d1953-0KAC2016225584aut1 a손석배1 a박현풍,g朴炫風,d1973-0KAC2020658470 t한국정밀공학회지.d한국정밀공학회.g17卷 10號(2000년 10월), p. 26-40q17:10<26w(011001)KSE199508376,x1225-907110aLee, Kwan H.10aSon, Seokbae10aPark, Hyunpung