01233nam a2200253 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052003800093245020100131300002300332545009500355545007000450545007000520653009400590700005300684700001400737700001400751773015800765900001800923900001700941900002100958KSI00057422320060919165049060905s2004    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a565.05b한615ㅈㅁc18(1)-18(3)00a반도체 소자의 DC 특성 검사용 회로설계에 관한 연구=x(A)study on the circuit design for DC characteristic inspection of semiconductor devices/d김준식,e이상신,e전병준  ap. 105-114;c26 cm  a김준식, 호서대학교 전기정보통신공학부 교수bjoonskim@office.hoseo.ac.kr  a이상신, 호서대학교 대학원 전자공학과 석사과정  a전병준, 호서대학교 대학원 전자공학과 석사과정  a반도체 소자a회로설계aDC parameter testaSemiconductor deviceaInspection error1 a김준식,g金俊植,d1963-0KAC2015024814aut1 a이상신1 a전병준0 t조명·전기설비학회논문지.d韓國照明·電氣設備學會.g18권 1호(2004년 1월), p. 105-114q18:1<105w(011001)KSE199800999,x1229-469110aKim, Joonseek10aLee, Sangsin10aJoun, Byoungjoon