01468nam a2200337 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052003400093245017700127300002300304545005300327545007500380545009500455545003600550545003600586653016500622700001900787700001400806700004800820700001400868700001400882773012500896856002001021900002001041900001801061900001801079900001601097900001701113KSI00055652420060831093615060814s2003    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a570.5b한648ㅎc41(4)-41(6)00a필름 가공 공정에서의 이상 감지 및 진단=xFault detection and diagnosis in film processing plants/d윤동명,e이영학,e한종훈,e안훈성,e장사윤  ap. 585-591;c29 cm  a윤동명, 포항공과대학교 화학공학과  a이영학, 포항공과대학교 화학공학과, 아이시스텍(주)  a한종훈, 포항공과대학교 화학공학과, 아이시스텍(주)bchan@postech.ac.kr  a안훈성, 도레이새한(주)  a장사윤, 도레이새한(주)  a필름 가공 공정a이상 감지aFilm processaPrincipal component analysisaPCAaMultivariate statistical process controlaMSPCaFault detectionaDiagnosis1 a윤동명4aut1 a이영학1 a한종훈,g韓宗勳,d1970-0KAC2018474421 a안훈성1 a장사윤0 t화학공학.d한국화학공학회.g41권 5호(2003년 10월), p. 585-591q41:5<585w(011001)KSE199509737,x0304-128X40uT00000437768ad10aYoon, Dongmyung10aLee, Younghak10aHan, Chonghun10aAn, Hunsung10aChang, Sayun