01036nam a2200241 c 4500001001300000005001500013007000300028008004100031041001300072049003200085052001700117056001400134082001900148245020300167260003700370300004300407500013200450502008000582504002900662546002500691700005300716900002500769KDM20130702120200812153433ta130912s2013    ggkad    m HE 000   kor  0 akorbeng0 lEM5741747lEM5741748c2fDP01a569.81b13-8  a569.812501a621.38154222100a저출력 LED 패키지의 고장 메커니즘 분석과 효율적 신뢰성 시험 법 연구 =xAnalysis of failure mechanisms and efficient reliability tests of low power LED package /d윤양기  a수원 :b아주대학교,c2013  axii, 140 p. :b삽화, 도표 ;c26 cm  a권말부록: 저 출력 LED 패키지 정상 수명 시험 데이터 ; 저 출력 LED 패키지 가속 수명 시험 데이터1 a학위논문(박사) --b아주대학교 대학원,c산업공학과,d2013  a참고문헌: p. 113-127  a영어 요약 있음1 a윤양기,g尹良麒,d1972-0KAC2018723674aut10aYoon, Yanggi,d1972-