01114nam a2200217 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052003300093245020900126300002500335545006400360545007200424653015300496700001900649700004800668773014300716900001800859900001900877KSI00040174120050603144942050531s1998    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a028.605b한613ㅈㅂc5(10)00a불변 모멘트를 이용한 반도체 IC 리드 불량 검사 알고리즘=x(The)inspection algorithm using invariant moment for the detection of lead faults of semiconductor IC/d이길휘,e김준식  ap. 2737-2749;c26 cm  a이길휘, 정회원 : (주)기아정보시스템 연구원  a김준식, 정회원 : 호서대학교 전기전자공학부 교수  a불변 모멘트a반도체aIC 리드a불량 검사 알고리즘aInspection algorithmaInvariant momentaDetectionaLead faultsaSemiconductor IC1 a이길휘4aut1 a김준식,g金俊植,d1963-0KAC2015024810 t정보처리논문지.d한국정보처리학회.g제5권 10호(1998년 10월), p. 2737-2749q5:10<2737w(011001)KSE199509081,x1226-919010aRhee, Kil-Whi10aKim, Joon-Seek