00947nam a2200217 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052003200093245013000125300002300255545008300278545008300361653005300444700001900497700003600516773013700552900001800689900002200707KSI00039737720050603144908050526s1998    ulk           000   kor    a0110010 akorbeng01a028.605b한613ㅈㅂc5(1)00aTTCN을 사용한 추상시험스위트 작성 방안=xDescription of abstract test suite using TTCN/d박용범,e진병문  ap. 128-136;c26 cm  a박용범, 정회원 : 한국전자통신연구원 프로토콜기술연구실  a진병문, 정회원 : 한국전자통신연구원 프로토콜기술연구실  aTTCNa추상시험스위트aAbstract test suite1 a박용범4aut1 a진병문,d1953-0KAC2018F51270 t정보처리논문지.d한국정보처리학회.g제5권 1호(1998년 1월), p. 128-136q5:1<128w(011001)KSE199509081,x1226-919010aPark, Yongbum10aChin, Byoung-Moon