01196nam a2200265 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052002500093245019400118300003200312545006900344545006000413545006000473653011600533700001400649700001400663700005300677773012300730856002000853900001900873900001800892900002000910KSI00008659320031226175957031125s1988    tgka          000   kor    a0110010 akorbeng01a569.05b경181ㅈc900a조합논리회로에 대한 개선된 자동시험패턴 발생에 관한 연구=xImproved automatic test pattern generation for combinational circuits/d안광선,e이중하,e김대영  ap. 141-146:b삽도;c26 cm  a안광선, 경북대학교 공과대학 전자계산기공학과  a이중하, 경북대학교 공과대학 전자공학과  a김대영, 경북대학교 공과대학 전자공학과  a조합논리회로a자동시험패턴aImprovedaAutomaticaTestaPatternaGenerationaCombinationalaCircuits1 a김대영1 a이중하1 a안광선,g安光善,d1949-0KAC2017458434aut0 t電子技術硏究誌.d慶北大學校 出版部.g9권(1988년), p. 141-146q9<141w(011001)KSE199504020,x1225-214X40u3283060aKd00010aKim, Day-Young10aLee, Joong-Ha10aAhn, Gwang-Seon