02111na  a2200433   4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052002800093245026000121300003200381545007500413545007500488545007500563545007500638545007500713545006700788545006700855545006700922653012000989700005301109700001401162700004801176700001401224700004801238700004801286700001401334700003601348773013901384900002001523900002001543900002001563900001901583900001801602900001901620900001901639900001901658KSI00017285020040212184100031217s1996    ulka          000   kor    a0110010 akorbeng01a569.05b대483c33(1.1)00aBa/sup 0.7/Sr/sup 0.3/TiO/sup 3/ 박막 커패시퍼의 마이코로파 측정=xMicrowave measurement of Ba/sup 0.7/Sr/sup 0.3/TiO/sup 3/ thin film capacitors/d張炳琸,e車宣龍,e李昇勳,e郭東華,e李熙哲,e兪炳坤,e白種泰,e兪亨濬  ap. 114-121:b삽도;c26 cm  a장병택, 정회원, 한국과학기술원 전기 및 전자공학과  a차선용, 정회원, 한국과학기술원 전기 및 전자공학과  a이승훈, 정회원, 한국과학기술원 전기 및 전자공학과  a곽동화, 정회원, 한국과학기술원 전기 및 전자공학과  a이희철, 정회원, 한국과학기술원 전기 및 전자공학과  a유병곤, 정회원, 전자통신연구소 반도체연구단  a백종태, 정회원, 전자통신연구소 반도체연구단  a유형준, 정회원, 전자통신연구소 반도체연구단  aBa/sup 0.7/Sr/sup 0.3/TiO/sup 3/ 박막 커패시퍼a마이코로파aMicrowaveaMeasurementaThin film capacitors1 a장병탁,g張炳卓,d1963-0KAC2014272704aut1 a차선용1 a이승훈,g李昇勳,d1960-0KAC2018363981 a곽동화1 a이희철,g李禧哲,d1973-0KAC2017399101 a유병곤,g兪炳坤,d1957-0KAC2018211031 a백종태1 a유형준,d1953-0KAC2018356490 t電子工學會論文誌. A.d大韓電子工學會.g33卷 2號(1996년 2월), p. 114-121q33:2<114w(011001)KSE199508730,x1016-135X10aJang, Byung-Tak10aCha, Seon-Young10aLee, Seung-Hoon10aKwak, Dong-Wha10aLee, Hee Chul10aYu, Byoung-Gon10aBaek, Jong-Tae10aYu, Hyung-Joun