01015nam a2200217 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052001900093245019600112300003000308545007300338545007300411653007400484700001900558700004800577773013300625900002000758900001900778KSI00013869620040209175104031209s2002    ulka          000   kor    a0110010 akorbeng01a530.05b대46500aVia 이동을 통한 결함 민감 지역 감소를 위한 시뮬레이티드 어닐링=xSimulated annealing for reduction of defect sensitive area through via moving/d이승환,e손소영  ap. 57-62:b삽도;c29 cm  a이승환, 연세대학교 컴퓨터과학·산업시스템공학과  a손소영, 연세대학교 컴퓨터과학·산업시스템공학과  aSimulated annealingaLayoutaDefect toleranceaViaaYield Enhancement1 a이승환4aut1 a손소영,g孫素映,d1960-0KAC2016372490 t대한산업공학회지.d大韓産業工學會.g28권 1호(2002년 3월), p. 57-62q28:1<57w(011001)KSE199508440,x1225-098810aLee, Seung Hwan10aSohn, So Young