01228nam a2200253 c 4500001001300000005001500013008004100028040001100069041001300080052003900093245019000132300003200322545008800354545006000442545006000502653011900562700001900681700004800700700001400748773015500762900002000917900001700937900002000954KSI00005424320040114083303031010s2000    ulka          000   kor    a0110010 akorbeng01a569.205b한597ㅈㄱc13(1)-13(4)00aTrap 주입에 의한 LIGBT 의 스위칭 특성 향상에 관한 연구=xStudy on improved switching characteristics of LIGBT by the trap injection/d추교혁,e강이구,e성만영  ap. 120-124:b삽도;c26 cm  a추교혁, 고려대학교 공과대학 전기공학과bsemicad@kuccnx.korea.ac.kr  a강이구, 고려대학교 공과대학 전기공학과  a성만영, 고려대학교 공과대학 전기공학과  a주입a스위칭a턴 오프a트랩a캐리어 수명시간aTturn-offaTrapaSwitchingaCarrier lifetimeaLIGBT1 a추교혁4aut1 a강이구,g姜二求,d1967-0KAC2016364781 a성만영0 t전기전자재료학회논문지.d한국전기전자재료학회.gVol.13 no.2(2000년 2월), p. 120-124q13:2<120w(011001)KSE199800338,x1226-794510aChoo, Kyo Hyuck10aKang, Ey Goo10aSung, Man Young